资本图3UC-TENG的工作过程和仿真结果（a）UC-TENG的工作过程图。
（d）C-SiOx/C微米颗粒的TEM图像以及C、投资Si和O的EDS元素分布图。配电（d）SiOx/C和C-SiOx/C的XPS全谱图。
因此，网电网垄如何保持微米SiOx颗粒的动态完整性并提高其Li+/e-电导率对于硅基负极的实际应用至关重要。3、断被完整的界面有效地避免了SEI的不可控生长。得益于具有动态稳定的整体界面，限制微米级C-SiOx/C颗粒可有效解决硅基材料不稳定的表界面问题，限制在半电池和全电池中都表现出优异的循环稳定性和倍率性能。
通过材料的透射电镜照片、资本高分辨透射电镜照片（图a-c）可以看出，微米级C-SiOx/C颗粒表面存在均匀的聚合物包覆层，且CNTs均匀地嵌入其中。投资相关技术已导入中科院化学所成果转化基地---江西壹金新能源科技有限公司。
由于界面保护层的引入，配电C-SiOx/C的首次充电比容量有略微的降低（图b），配电但由于界面稳定性的提升，首圈CV曲线中对应于生长SEI的宽峰明显减弱（图a），用于生长SEI的容量也有相应减少。
网电网垄（d）Li||SiOx/C和Li||C-SiOx/C的库伦效率和循环性能。材料结构组分表征目前在储能材料的常用结构组分表征中涉及到了XRD,NMR,XAS等先进的表征技术，断被此外目前的研究也越来越多的从非原位的表征向原位的表征进行过渡。
近年来国际知名期刊上发表的锂电类文章要不就是能做出突破性的性能，限制要不就是能把机理研究的十分透彻。资本而机理研究则是考验科研工作者们的学术能力基础和科研经费的充裕程度。
Kim课题组在锂硫电池的正极研究中利用原位TEM等形貌和结构的表征，投资深入的研究了材料的电化学性能与其形貌和结构的关系(Adv.EnergyMater.,2017,7,1602078.)，投资如图三所示。利用原位TEM等技术可以获得材料形貌和结构实时发生的变化，配电如微观结构的转化或者化学组分的改变。
